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上海精科物理光学厂X-4B显微熔点仪
| 型号： | X-4B |
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
上海精科物理光学厂X-4B显微熔点仪产品概述：
品牌：上海仪电物理光学仪器有限公司 （原上海精科厂）
名称：显微熔点仪
型号：X-4B
产品描述：
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）/±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
温度显示小值：0.1℃
熔点观察方式： 双目显微镜
光学放大倍数 40-100X
同系列产品：
名称 | 型号 | 主要技术参数 |
熔点仪 | WRS-3 | 范围：室温~320℃，温度数显小示值0.1℃，示值误差：在环境温度为23℃±5℃时，应符合下列要求：（1）在＜200℃范围内为±0.5℃时（2）在200-320℃范围为±0.8℃时，示值重复性：升温速率为1.0℃/min，样品的不确定度为0.3℃，线性升温速率误差不大于名义值的10% |
熔点仪(程控、数显) | WRR | 范围：40~280℃ 重复性：0.3℃ 小数单位:0.1℃（可同时测试3个样品） |
数字熔点仪 (微机、液晶数显) | WRS-1B | 范围:室温~300℃ 小读数:0.1℃ 接口输出RS232、通过PC显示熔化曲线 |
数字熔点仪 (微机、点阵液晶) | WRS-2 | 同上(直接显示熔化曲线及测量结果) |
WRS-2A | 同上(可同时测三个样品) | |
微机熔点仪 | WRS-2C | 范围：室温~300℃，温度数显小值：0.1℃，线性升温速度率:0.1℃/min之间任意连续， 测定熔点的示值误差：≤200℃;±0.4℃;＞200℃;±0.7℃，重复性：0.3℃ |
微机熔点仪 | WRS-1C | 范围：室温-400℃，“起始温度”设定时间：50-400℃，不大于5min；设定时间：400-50℃，不大于7min；温度数显小示值0.1℃；线性升温速率：0.1-20.0℃/min之间任意连续可选；重复性0.3 |
全套显微热分析仪 (程控、数显) (显微熔点仪) | WRX-1S | 范围：室温~300℃ 重复性：0.4℃；小读数单位:0.1℃；(附XSP-8CA三目生物显微镜，CCD)（显示部分选购），总放大倍数40-1600X，调焦25mm，微动格值0.002mm；移动范围：横向50mm 纵向70mm |
显微熔点仪(数显) | X-4 | 范围：室温~320℃，小读数单位:1℃， 重复性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) |
显微熔点仪(数显) | X-4A | 范围：室温~320℃，小读数单位:0.1℃， 重复性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) |
显微熔点仪(数显) | X-4B | 范围：室温~320℃，小读数单位:0.1℃， 重复性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) 双目体式显微镜，光学放大倍数：40倍-100倍 |
滴点软化点测定仪 (程控、液晶数显) | WQD-1A | 范围:室温~300℃ 小读数单位:0.1℃ |
